涂层湿膜测厚仪

吉泰JCT测厚仪技术参数
测量范围：(0～1250) μm（F1、N1测头）F400测头可以检测微小工件，F10测头可达10mm；
分 辨 率：0.1μm (F1、N1测头)；
示值精度：±(2%H+1) μm; H为被测涂层厚度；
显示方法：128*64点阵液晶LCD；
存储容量：可存储5组（每组多100个测量值）测量数据；
单 位 制：公制（μm）、英制（mil），可自由转换；
工作电压：3V（2节5号碱性电池）；
持续工作时间：大于200小时（不开背光时）；
通讯接口：USB通讯接口，可与PC机连接、通讯；
外形尺寸：115mm×67mm×31 mm；
整机重量：340g。

镀层测厚仪是将X射线照射在样品上，通过从样品上反射出来的第二次X射线的强度来。测量镀层等金属薄膜的厚度，因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线只有45-75W左右，所以不会对样品造成损坏。同时，测量的也可以在10秒到几分钟内完成。

测厚仪的测试方法主要有：磁性测厚法，放射测厚法，电解测厚法，涡流测厚法，超声波测厚法。


测量注意事项：
⒈在进行测试的时候要注意标准片集体的金属磁性和表面粗糙度应当与试件相似。


⒉测量时侧头与试样表面保持垂直。


⒊测量时要注意基体金属的临界厚度，如果大于这个厚度测量就不受基体金属厚度的影响。


⒋测量时要注意试件的曲率对测量的影响。因此在弯曲的试件表面上测量时不可靠的。


⒌测量前要注意周围其他的电器设备会不会产生磁场，如果会将会干扰磁性测厚法。


⒍测量时要注意不要在内转角处和靠近试件边缘处测量，因为一般的测厚仪试件表面形状的忽然变化很敏感。


⒎在测量时要保持压力的恒定，否则会影响测量的读数。


⒏在进行测试的时候要注意仪器测头和被测试件的要直接接触，因此超声波测厚仪在进行对侧头清除附着物质。