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吉泰JCT测厚仪技术参数
测量范围：(0～1250) μm（F1、N1测头）F400测头可以检测微小工件，F10测头可达10mm；
分 辨 率：0.1μm (F1、N1测头)；
示值精度：±(2%H+1) μm; H为被测涂层厚度；
显示方法：128*64点阵液晶LCD；
存储容量：可存储5组（每组多100个测量值）测量数据；
单 位 制：公制（μm）、英制（mil），可自由转换；
工作电压：3V（2节5号碱性电池）；
持续工作时间：大于200小时（不开背光时）；
通讯接口：USB通讯接口，可与PC机连接、通讯；
外形尺寸：115mm×67mm×31 mm；
整机重量：340g。
产品特点
有多种测头类型可供选择，通过选择相应的测头，既可测量磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度，又可测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度；
测头接触部件镀硬铬或为红宝石，；
自动识别探头 ；
可设定上下限值，测量结果大于等于上下限数值时，仪器会发出相应的声音或闪烁灯提示；
通过屏显或蜂鸣声对错误进行提示 ；
设有五个统计量：平均值（MEAN）、大值(MAX)、小值(MIN)、测试次数(NO.)、标准偏差(S.DEV)；
具有测头零点校准、一点校准、两点校准功能, 并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正；
可选择配备微机软件，具有传输测量结果、测值存储管理、测值统计分析、打印测值报告等丰富功能；
通讯功能，可与PC连机 、通过电脑端软件分析数据、实行打印报告等；
采用ABS塑料外壳，小巧、便携、坚实，适用于恶劣的操作环境，抗振动、冲击和电磁干扰。
四、标准配置
主机 1个
测头 1个
校准片 5片
校零基体 1个
电池 2节
说明书 1本
保修卡 1个
仪器箱 1个
镀层测厚仪是将X射线照射在样品上，通过从样品上反射出来的第二次X射线的强度来。测量镀层等金属薄膜的厚度，因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线只有45-75W左右，所以不会对样品造成损坏。同时，测量的也可以在10秒到几分钟内完成。
